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電子產(chǎn)品在出廠之前,都要經(jīng)過(guò)可靠性的測(cè)試通過(guò)了才能使用,那么電子產(chǎn)品在制造加工的過(guò)程中要經(jīng)過(guò)一系列的步驟,那么在制造加工的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)步驟錯(cuò)誤或者電子零件不良等等問(wèn)題,這就是加工的問(wèn)題和電子元件本身的問(wèn)題,這時(shí)候老化試驗(yàn)就出現(xiàn)了,就是避免出現(xiàn)殘次品,不良品,保證產(chǎn)品能夠正常使用,不會(huì)失誤,老化試驗(yàn)如果效果不好的話那么試驗(yàn)?zāi)康木瓦_(dá)不到,反而增加了使用成本。
老化是在指定的環(huán)境溫度下,較長(zhǎng)時(shí)間以?xún)?nèi)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力施加,產(chǎn)品的性能以及質(zhì)量的篩查,促使電子產(chǎn)品內(nèi)部的各種潛在缺點(diǎn)暴露出來(lái),剔除掉無(wú)效的產(chǎn)品,從而達(dá)到這樣一個(gè)目的。
電子產(chǎn)品生產(chǎn)加工以后,形成完整的一個(gè)產(chǎn)品,它的價(jià)值已經(jīng)發(fā)揮出來(lái)了。但是在使用以后難免會(huì)出現(xiàn)各種問(wèn)題,老化測(cè)試就可以完美的規(guī)避這些問(wèn)題,有問(wèn)題的電子產(chǎn)品就不能出廠。那些可以正常使用的電子產(chǎn)品就可以出廠投入大量使用了,這就是電子產(chǎn)品為什么要做老化測(cè)試的原因了。
為什么要做老化測(cè)試?
生產(chǎn)線上剛出來(lái)的產(chǎn)品,絕大部分都具有了它設(shè)計(jì)時(shí)的完備功能并可以直接投入使用的,但為何還要做老化測(cè)試呢?產(chǎn)品質(zhì)量理論告訴我們,產(chǎn)品故障的的發(fā)生大部分都發(fā)生初期和末期,末期是到了產(chǎn)品的正常壽命,無(wú)法控制,但初期是可以控制的,可以控制在工廠大門(mén)之內(nèi),那就是在把產(chǎn)品交到用戶(hù)手上之前做足老化測(cè)試,把問(wèn)題扼殺在工廠內(nèi)部,**的廠家就是這么做的,但山寨廠一般不做老化測(cè)試,或者說(shuō)是把老化測(cè)試的工作交給了用戶(hù),所以我們還是經(jīng)常買(mǎi)到一些產(chǎn)品,到手沒(méi)用多久就壞了,其實(shí)這就是老化測(cè)試未通過(guò)的結(jié)果,由于用戶(hù)認(rèn)領(lǐng)了山寨廠的部分工作,所以一般地山寨產(chǎn)品會(huì)識(shí)趣地便宜很多。
老化測(cè)試的注意事項(xiàng):
為了使老化取得滿意的效果,應(yīng)注意下面幾點(diǎn):
1.老化設(shè)備應(yīng)有良好的防自激振蕩措施;
2.給器件施加電壓時(shí),要從零開(kāi)始緩慢地增加,去電壓時(shí)也要緩慢地減小,否則電源電壓的突變所產(chǎn)生的瞬間脈沖可能會(huì)損傷器件。老化后要在標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范規(guī)定的時(shí)間內(nèi)及時(shí)測(cè)量,否則某些老化時(shí)超差的參數(shù)會(huì)恢復(fù)到原來(lái)的數(shù)值;
3.為保證晶體管能在最高溫度下老化,應(yīng)準(zhǔn)確測(cè)量晶體管熱阻;
對(duì)于集成電路來(lái)說(shuō),由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制,自身的結(jié)溫溫升很少,如不提高環(huán)境溫度很難達(dá)到有效地老化所需的溫度。因此,常溫靜態(tài)功率老化只在部分集成電路(線性電路和數(shù)字電路)中應(yīng)用。