跌落測(cè)試分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。包裝跌落主要考慮運(yùn)輸、儲(chǔ)存產(chǎn)品的意外跌落沖擊能力;裸機(jī)跌落主要考慮產(chǎn)品在正常使用過程中的意外跌落沖擊能力。包裝跌落也可以反映產(chǎn)品在垂直下降時(shí)的保護(hù)能力。
跌落高度、跌落次數(shù)和跌落方向反映了測(cè)試的嚴(yán)格性。不同產(chǎn)品的國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范對(duì)跌落方式和跌落高度有不同的要求。對(duì)于手持式產(chǎn)品(如手機(jī)、MP3等),大部分跌落高度大多在100cm~150cm之間。IEC建議≤2kg手持式產(chǎn)品的跌落高度不得損壞,MIL建議跌落高度為122cm,Intel手持式產(chǎn)品(如手機(jī))建議跌落高度為150cm。
根據(jù)參考標(biāo)準(zhǔn),跌落面為混凝土或鋼材光滑、剛性表面堅(jiān)硬或必要時(shí)為其他地面,如大理石地面。
包裝跌落試驗(yàn)一般要求一角三面六面自由跌落;
跌落:跌落后,測(cè)試角撞擊接觸平面;
側(cè)面墜落:將樣板底面傾斜至水平20°角,然后將樣板底面抬高至測(cè)試高度,再跌落,側(cè)面撞擊接觸平面;
表面墜落:測(cè)試樣板墜落后,其平面應(yīng)直接撞擊接觸平面;
外箱或內(nèi)箱的強(qiáng)度和產(chǎn)品包裝的牢固性是否符合質(zhì)量要求。
裸機(jī)墜落測(cè)試的目的:
裸機(jī)墜落測(cè)試是為了測(cè)試產(chǎn)品在使用過程中抵抗投擲和墜落的能力。釋放測(cè)試樣品的方法應(yīng)使測(cè)試樣品從懸掛位置自由墜落。釋放時(shí),應(yīng)盡量減少干擾。
1.ASTM標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀要求:投擲地面應(yīng)覆蓋3.0mm(1/8in)厚膠地板,至少64mm(2.5in)厚混凝土,面積不小于3㎡;
2.EN71標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器要求:投擲地面為4mm厚鋼板,鋼板表面應(yīng)涂2mm厚,肖氏硬度為75±5A覆蓋層,放置在非柔性水平表面;
3.GB675標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)儀器要求:沖擊表面應(yīng)由額定厚度約3mm的乙烯基聚合物片組成,乙烯基聚合物片附著在至少64mm厚的混凝土上,蓋表面應(yīng)達(dá)到10度,至少0.3㎡。
GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境測(cè)試第二部分測(cè)試方法測(cè)試Ed:自由墜落。
IEC60068-2-32《自由68-2-32。
GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件墜落測(cè)試方法。
AS***5276-98(2009)
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