電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法

2022-09-12   ?   Orange

老化測(cè)試是電容器保證可靠性水平和質(zhì)量的篩選方法之一,接下來(lái)為您講解該測(cè)試的相關(guān)信息。電容器是容納電荷的器件,兩個(gè)相互靠近的導(dǎo)體,中間夾一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì),就構(gòu)成了電容器。當(dāng)電容器的兩個(gè)極板之間加上電壓時(shí),電容器就會(huì)儲(chǔ)存電荷。電容器的電容量在數(shù)值上等于一個(gè)導(dǎo)電極板上的電荷量與兩個(gè)極板之間的電壓之比,電容器的電容量的基本單位是法拉(F)。在電路圖中通常用字母C表示電容元件。

電容器在調(diào)諧,旁路,耦合,濾波等電路中起著重要的作用。晶體管收音機(jī),CD唱機(jī),錄音機(jī)的調(diào)諧電路要用到它。彩色電視機(jī)的耦合電路,旁路電路等也要用到它。


電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法(圖1)


電容器老化測(cè)試的目的:

考察電容器隨著使用時(shí)間的推移,產(chǎn)品性能的變化狀況,考察產(chǎn)品使用的可靠性。

電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法:

電容器老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

1.GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn),第2部分》;

2.IEC 60068-2-2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境測(cè)試,第2-2部分:試驗(yàn),試驗(yàn)B:干熱》;

3.MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》。

電容器老化測(cè)試方法:

1.常溫額定電壓下,保持12分鐘,漏電流{當(dāng)UR≤100V時(shí),I≤0.01CV或3μA(取大者);當(dāng)UR>100V時(shí),I≤0.0.CV+10μA};

2.高溫85℃,額定電壓下,連續(xù)24小時(shí)檢測(cè)其漏電流波動(dòng)情況;

3.每5分鐘記錄一次數(shù)據(jù),要求老化過(guò)程中漏電流無(wú)大的波動(dòng),且小于10倍初始極限值;

4.恢復(fù)至常溫,保持12分鐘;

5.監(jiān)測(cè)漏電流,損耗角,絕緣電阻符合常溫下標(biāo)準(zhǔn)。


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